Repositório UNIFEI UNIFEI - Campus 1: Itajubá PPG - Programas de Pós Graduação Dissertações
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Tipo: Dissertação
Título: Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado
Autor(es): CÂNDIDO, Marcos Rogério
Primeiro Orientador: PIMENTA, Tales Cleber
Resumo: Consta no arquivo em PDF
Palavras-chave: Circuitos digitais
Teste para falhas Stuck-at e Stuck-open
Estrutura BIST
Modelamento de falhas
CNPq: CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELÉTRICA
Idioma: por
País: Brasil
Editor: Universidade Federal de Itajubá
Sigla da Instituição: UNIFEI
metadata.dc.publisher.department: IESTI - Instituto de Engenharia de Sistemas e Tecnologia da Informação
metadata.dc.publisher.program: Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Engenharia Elétrica
Tipo de Acesso: Acesso Aberto
URI: https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2901
Data do documento: 2-Jan-1997
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