Modelagem de transistores de efeito de campo MOS de fortalecimento – Um estado da arte

CREPALDI, Paulo César

dc.creator	CREPALDI, Paulo César
dc.date.issued	1992-10-20
dc.identifier.uri	https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2758
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal de Itajubá	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Modelagem de transistores	pt_BR
dc.subject	Campo MOS de enriquecimento	pt_BR
dc.subject	Modelagem de Mosfets	pt_BR
dc.title	Modelagem de transistores de efeito de campo MOS de fortalecimento – Um estado da arte	pt_BR
dc.type	Dissertação	pt_BR
dc.date.available	2021-12-15
dc.date.available	2021-12-15T12:46:38Z
dc.date.accessioned	2021-12-15T12:46:38Z
dc.creator.Lattes	http://lattes.cnpq.br/5741410875148861	pt_BR
dc.contributor.advisor1	CALDEIRA, Laércio
dc.contributor.advisor1Lattes	http://lattes.cnpq.br/3137166078502632	pt_BR
dc.contributor.advisor-co1	WAKI, Paulo Sizuo
dc.contributor.advisor-co1Lattes	http://lattes.cnpq.br/6416497515150655	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	IEPG - Instituto de Engenharia de Produção e Gestão	pt_BR
dc.publisher.program	Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Engenharia Elétrica	pt_BR
dc.publisher.initials	UNIFEI	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELÉTRICA	pt_BR