| dc.creator | MACIEL, Aline Cristina | |
| dc.date.issued | 2025-11-24 | |
| dc.identifier.citation | MACIEL, Aline Cristina. Plano de amostragem dupla baseado no Cpk para aceitação de lotes. 2025. 98 f. Tese (Doutorado em Engenharia de Produção) – Universidade Federal de Itajubá, Itajubá, 2025. | pt_BR |
| dc.identifier.uri | https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/4351 | |
| dc.description.abstract | Sampling inspection has reduced operational efforts in companies during the acceptance/rejection process of lots of items from external and/or internal suppliers of finished and/or in-process products. Sampling plans based on sample estimates of the process capability index (Cpk) have been the focus of recent studies. Within this line of research, a double sampling plan based on sample estimates of Cpk is proposed. In this plan, a random sample is selected from each lot, and with the observations of this sample of size 𝑛𝑛1, 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1, a sample estimate of the Cpk index, is obtained. If 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1, is lower (higher) than a threshold 𝑘𝑘1(𝑘𝑘2), the lot will be rejected (accepted). Otherwise, a new sample of size 𝑛𝑛2 will be randomly drawn from the same lot. A second estimate, 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝2, of the Cpk index will then be obtained with the observations of this second sample, and finally, the values of 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1 and 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝2 will determine the acceptance/rejection of the lot. Double sampling based on sample estimates of the Cpk index presents itself as an interesting alternative to the double sampling plan by attributes of the NBR 5426 standard, due to a significant reduction in the number of items inspected per lot; on average, the reduction is around 71%. It also shows, on average, a 21% reduction in the number of items inspected compared to the single sampling plan based on Cpk. This decrease in the average sample size required for the acceptance or rejection of lots, promoted by the double sampling plan based on Cpk, results in lower use of operational resources such as labor, time, and cost during the industrial lot inspection process. This achievement aligns with the Sustainable Development Goals (SDGs), particularly SDG 9 (Industry, Innovation, and Infrastructure) and SDG 12 (Responsible Consumption and Production), contributing to the promotion of a more efficient, responsible, and innovative industry. | pt_BR |
| dc.language | por | pt_BR |
| dc.publisher | Universidade Federal de Itajubá | pt_BR |
| dc.rights | Acesso Aberto | pt_BR |
| dc.subject | Amostragem simples por Cpk | pt_BR |
| dc.subject | Amostragem dupla por Cpk | pt_BR |
| dc.subject | Amostragem dupla por atributos | pt_BR |
| dc.subject | Normas de inspeção por amostragem | pt_BR |
| dc.subject | Tamanho médio da amostra | pt_BR |
| dc.title | Plano de amostragem dupla baseado no Cpk para aceitação de lotes | pt_BR |
| dc.type | Tese | pt_BR |
| dc.date.available | 2026-02-20 | |
| dc.date.available | 2026-02-20T18:06:02Z | |
| dc.date.accessioned | 2026-02-20T18:06:02Z | |
| dc.creator.Lattes | http://lattes.cnpq.br/7516414502348891 | pt_BR |
| dc.contributor.advisor1 | COSTA, Antônio Fernando Branco | |
| dc.contributor.advisor1Lattes | http://lattes.cnpq.br/6100382011052492 | pt_BR |
| dc.description.resumo | A inspeção por amostragem tem reduzido esforços operacionais nas empresas durante o processo de aceitação/rejeição de lotes de itens provenientes dos fornecedores externos e/ou internos de produtos acabados e/ou em processo. Planos de amostragens baseados em estimativas amostrais do índice de capacidade do processo Cpk tem sido o foco de estudos recentes. Dentro desta vertente de pesquisa, propõe-se um plano de amostragem dupla baseado em estimativas amostrais do Cpk. No qual, de cada lote é escolhido uma amostra aleatória, e com as observações desta amostra de tamanho 𝑛𝑛1, obtêm-se 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1, uma estimativa amostral do índice Cpk; se 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1 for menor (maior) que um limitante 𝑘𝑘1 (𝑘𝑘2), o lote será rejeitado (aceito), caso contrário, uma nova amostra de tamanho 𝑛𝑛2 será aleatoriamente extraída do mesmo lote. Uma segunda estimativa 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝2, do índice Cpk, será então obtida com as observações desta segunda amostra e, finalmente, os valores de 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝1 e 𝐶𝐶 ̂ 𝑝𝑝𝑝𝑝2 determinarão a aceitação/rejeição do lote. A amostragem dupla baseada nas estimativas amostrais do índice Cpk apresenta-se como uma alternativa interessante ao plano de amostragem dupla por atributos da norma NBR 5426, devido a uma redução bastante significativa no número de itens inspecionados por lote; em média, a redução gira em torno de 71%. Também apresenta, em média, uma redução de 21% no número de itens inspecionados em relação ao plano de amostragem simples baseado no Cpk. Essa diminuição do tamanho médio da amostra necessária para a aceitação ou rejeição de lotes, promovida pelo plano de amostragem dupla baseado no Cpk, resulta em menor utilização de recursos operacionais, tais como mão de obra, tempo e custo durante o processo de inspeção de lotes industriais. Esse ganho alinha-se aos Objetivos de Desenvolvimento Sustentável (ODS), em especial ao ODS 9 (Indústria, Inovação e Infraestrutura) e ao ODS 12 (Consumo e Produção Responsáveis), contribuindo para a promoção de uma indústria mais eficiente, responsável e inovadora. | pt_BR |
| dc.publisher.country | Brasil | pt_BR |
| dc.publisher.department | IEPG - Instituto de Engenharia de Produção e Gestão | pt_BR |
| dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação: Doutorado - Engenharia de Produção | pt_BR |
| dc.publisher.initials | UNIFEI | pt_BR |
| dc.subject.cnpq | CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA DE PRODUÇÃO | pt_BR |