Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado

CÂNDIDO, Marcos Rogério

dc.creator	CÂNDIDO, Marcos Rogério
dc.date.issued	1997-01-02
dc.identifier.uri	https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2901
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal de Itajubá	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Circuitos digitais	pt_BR
dc.subject	Teste para falhas Stuck-at e Stuck-open	pt_BR
dc.subject	Estrutura BIST	pt_BR
dc.subject	Modelamento de falhas	pt_BR
dc.title	Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado	pt_BR
dc.type	Dissertação	pt_BR
dc.date.available	2022-01-27
dc.date.available	2022-01-27T17:59:32Z
dc.date.accessioned	2022-01-27T17:59:32Z
dc.creator.Lattes	http://lattes.cnpq.br/1152891038537724	pt_BR
dc.contributor.advisor1	PIMENTA, Tales Cleber
dc.contributor.advisor1Lattes	http://lattes.cnpq.br/3321577431881283	pt_BR
dc.description.resumo	Consta no arquivo em PDF	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	IESTI - Instituto de Engenharia de Sistemas e Tecnologia da Informação	pt_BR
dc.publisher.program	Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Engenharia Elétrica	pt_BR
dc.publisher.initials	UNIFEI	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELÉTRICA	pt_BR