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Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado

Correlação entre vetores de teste para falhas Stuck-at e Stuck-open em circuitos digitais com alto teste incorporado

CÂNDIDO, Marcos Rogério; http://lattes.cnpq.br/1152891038537724
URI: https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/2901
Data: 1997-01-02

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Nome: Dissertação_19978 ...
Tamanho: 46.86Mb
Formato: PDF
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