Desenvolvimento de equipamento para avaliação da degradação de semicondutores de potência

GASPAR, Everaldo Simões

dc.creator	GASPAR, Everaldo Simões
dc.date.issued	2005-06-01
dc.identifier.uri	https://repositorio.unifei.edu.br/jspui/handle/123456789/3234
dc.description.abstract	This work presents a development of an equipment to test power semiconductors (diodes and thyristors). These semiconductors are extensively used in static compensators. It is introduced the theoretic foundations about those devices and required parameters to analyse the degradation in forward blocking (for thyristors) and reverse blocking (for diodes an thyristors). The test circuits development is also presented as well as the equipment´s control software. The set of hardware/software of this instrument allows the automatic execution of tests, acquisiting and recording the informations of each semiconductor tested. Based on the results of these tests, a degradative analysis methodology is proposed, categorizing the components in three possible states of operation: good, deficient or fail. The temperature influence in the blocking characteristics is also analyzed.	pt_BR
dc.language	por	pt_BR
dc.publisher	Universidade Federal de Itajubá	pt_BR
dc.rights	Acesso Aberto	pt_BR
dc.subject	Sistemas elétricos de potência	pt_BR
dc.subject	Semicondutores de potência	pt_BR
dc.subject	Avaliação de equipamentos	pt_BR
dc.title	Desenvolvimento de equipamento para avaliação da degradação de semicondutores de potência	pt_BR
dc.type	Dissertação	pt_BR
dc.date.available	2022-04-01
dc.date.available	2022-04-01T11:53:56Z
dc.date.accessioned	2022-04-01T11:53:56Z
dc.creator.Lattes	http://lattes.cnpq.br/7200526505335982	pt_BR
dc.contributor.advisor1	SILVA, Luiz Eduardo Borges da
dc.contributor.advisor1Lattes	http://lattes.cnpq.br/8514450520201861	pt_BR
dc.contributor.advisor-co1	SILVA, Valberto Ferreira da
dc.contributor.advisor-co1Lattes	http://lattes.cnpq.br/6254328944222311	pt_BR
dc.description.resumo	Este trabalho apresenta o desenvolvimento de um equipamento testador de semicondutores de potência, dos tipos diodos e tiristores. Estes semicondutores são utilizados extensivamente em compensadores estáticos de reativos. São apresentados os fundamentos teóricos sobre estes dispositivos e os parâmetros necessários para a análise de degradação relativas as características de bloqueio direto (para tiristores) e reverso (para diodos e tiristores). O desenvolvimento dos circuitos de teste são também demonstrados, assim como o software de controle do equipamento. O conjunto hardware/software deste instrumento permite a execução automática dos testes, aquisitando e arquivando dados resultantes de cada ensaio destes semicondutores. Com base nos resultados destes testes, uma metodologia de análise de degradação é proposta, classificando os componentes como em três estados de operação possíveis: bom, defeituoso ou falho. A influência da temperatura nas características de bloqueio é também analisada.	pt_BR
dc.publisher.country	Brasil	pt_BR
dc.publisher.department	IESTI - Instituto de Engenharia de Sistemas e Tecnologia da Informação	pt_BR
dc.publisher.program	Programa de Pós-Graduação: Mestrado - Engenharia Elétrica	pt_BR
dc.publisher.initials	UNIFEI	pt_BR
dc.subject.cnpq	CNPQ::ENGENHARIAS::ENGENHARIA ELÉTRICA::SISTEMAS ELÉTRICOS DE POTÊNCIA	pt_BR
dc.relation.references	GASPAR, Everaldo Simões. Desenvolvimento de equipamento para avaliação da degradação de semicondutores de potência. 2005. 165 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia Elétrica) – Universidade Federal de Itajubá, Itajubá, 2005.	pt_BR